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【HD新品推荐】自由空间法材料测试系统
浏览次数:1     发布时间:2022-05-18    

     恒达微波依据“自由空间法测量原理”自主研发的材料测试系统HD-XMTS2200,主要由点聚焦透镜天线、一维电控滑轨、材料旋转台、测试支架、射频线缆、材料夹具、矢网以及测试软件组成,可实现:
     1)平板材料的反射率、透波率测量;
     2)磁性材料的磁导率测量;
     3)非磁性材料的介电常数测量。

1、技术指标
 
     1)测试频率范围1-40GHz
     2)工作方式:扫频测量
     3)极化垂直或水平
     4)系统动态范围≥40dB
     5)介电常数测量范围1-100
     6)测量材料类型平板型
     7)材料大小:300×300mm
     8)材料厚度0.5-20mm
     9) 控制通信接口:LNA
 
2、产品外形图

3、产品功能
 
    (1)测量参数
     通过点聚焦透镜天线以及控制滑轨运动实现材料
     1)反射率、透波率测量;
     2)磁性材料的磁导率测量;
     3)非磁性材料的介电常数测量。
 
    (2)向导式校准
     根据选定的工作频段自动设定矢网的校准参数,提供图形化向导式操作界面,控制矢网和滑轨按预先设置进行到相应校准状态。用户按提示可方便完成复杂的矢网校准操作。
 
    (3)一维滑轨控制
     通过软件控制一维滑轨调整透镜相对材料的距离,完成测量的精准校准。
 
    4)可扩展
     在材料测试支架下面增加方位旋转台可以测量材料不同入射角下的参数测量
 
4、测试软件界面
 
     1)与仪表连接通信,控制仪表的频率、采集点数等进行设置;
     2)实时曲线显示界面,直观查看当前的测试结果;
     3)具有数据图形的保存、处理、输出功能;
     4)可根据用户现有仪器进行软件扩展和升级

恒达微波研制生产的“自由空间法材料测试系统”

具备材料参数测量、向导式校准、一维滑轨控制、可扩展等功能

欢迎各位来电垂询!029-85266626


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