恒达微波已建成3个微波暗室：天线平面近场、远场测试复合暗室，天线远场测试暗室， THZ天线测试暗室。测试频率覆盖0.5GHz-110GHz；并已通过西安电子工程研究所校准实验室的计量检测。
暗室1：天线平面近场、远场测试复合暗室（21m*14*10m）
测试频率0.5GHz-110GHz；天线平面近场扫描有效行程9m*6m
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暗室指标--平面近场指标 |
| 扫描架有效行程 |
≥9m×6m×0.5m（X×Y×Z） |
| 三轴分辨 |
0.003mm |
| 位置精度 |
X轴：0.05mm；Y 轴：0.05mm；Z 轴：0.03mm；P 轴：0.05° |
| 重复定位精度 |
X轴：0.05mm；Y 轴：0.05mm；Z 轴：0.03mm；P 轴：0.05° |
| 平面度（RMS） |
≤0.1mm @ 9m×6m |
| 直线度 |
≤0.03mm |
| X 轴、Y 轴、Z 轴任意面与坐标原面的垂直度 |
≤0.05° |
| 系统动态范围 |
＞60dB |
| 增益测试误差 |
优于±0.3dB |
| 波束宽度最大测试误差 |
≤波束宽度×1%（波束宽度＞2°） |
| 波束指向最大测试误差 |
≤波束宽度×1%（波束宽度＞2°） |
| 增益测量精度 |
≤±0.2dB |
| 副瓣测量精度 |
≤±0.7dB |
| ≤±0.9dB |
| ≤±1.5dB |
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暗室指标--远场测试场指标 |
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暗室静区尺寸 |
3m×3m×3m |
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静区性能 |
1GHz～2GHz： ≤-40dB |
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2GHz～4GHz： ≤-45dB |
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4GHz～40GHz：≤-50dB |
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场均匀性 |
横向≤±0.25dB @ 1GHz～40GHz |
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纵向≤±0.25dB @ 1GHz-40GHz |
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交叉极化隔离度 |
≤?27dB @ 2GHz～40GHz |
暗室2：天线远场测试暗室（12m*6m*3m）
测试频率：1GHz-110GHz
暗室3：THZ天线测试暗室（6m*7m*3m）
测试频率：30GHz-110GHz小口径天线
远场测试场
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天线远场测试场 |
测试距离 |
测试频率 |
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场1 |
30m |
100MHz-110GHz |
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场2 |
60m |
100MHz-110GHz |
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场3 |
300m |
100MHz-110GHz |
微波暗室的建成，大大提升了恒达微波公司在微波毫米波天线技术方面的研发实力，检测能力和批生产能力。同时，公司向同行业厂商和用户提供微波毫米波天线及产品测试测量服务，提供专业的、高质量、高性价比、标准化的天线系统测试解决方案。
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